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可程序硬盘高低温度BIT老化箱的测试应用

时间:2023-11-15 14:08:31 作者:环仪小编 点击:

固态硬盘(SSD)在生产过程中,需要进行一系列的试验,可程序硬盘高低温度BIT老化箱在SSD的应用中,是属于温湿度环境测试的一个重要试验项目,下面是该试验的过程。

测试硬件:环仪仪器 可程序硬盘高低温度BIT老化箱

测试环境:高温80℃/低温-40℃

测试样品:固态硬盘

测试依据:YD/T 3824-2021 面向互联网应用的固态硬盘测试规范

可程序硬盘高低温度BIT老化箱的测试应用(图1)

测试流程:

1.BIT老化箱设置为128KB顺序写,队列深度32,运行BIT老化箱。

2.以不大于20℃/h的温降速度从常温到-40度。

3.被测硬盘-40℃环境中,静置72小时。

4.以不大于20℃/h 的温升速度从-40℃到 80℃。

5.被测硬盘80℃环境中,静置72小时。

可程序硬盘高低温度BIT老化箱的测试应用(图2)

6.以不大于20℃/h的温升速度,使环境温度从80℃降到25℃,静置24小时。

7.BIT老化箱设置为128KB顺序写,队列深度32,运行BIT老化箱。

8.比较步骤1、7的测试结果。

高低温测试中,筛选不合格的盘片,其中包括了焊接问题、颗粒问题、DRAM以及主控问题,通过BIT测试,能保证盘片在使用过程中稳定可靠。



标签: SSD BIT老化柜

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