室温SSD老化试验柜使用步骤

随着SSD（固态硬盘）在各种应用中的广泛使用，其性能和耐久性测试变得尤为重要。小编将根据用户的测试要求，在室温下进行固态硬盘BIT测试的实施方法，以确保SSD在实际工作中的可靠性和稳定性。

室温SSD老化试验柜使用步骤：

测试设备：环仪仪器 室温SSD老化试验柜

测试样品：SSD（M2接口/SATA接口均可）

测试步骤：

步骤一：建立通信

样品在SSD老化试验柜安装好后，使用MI协议（NVM Express Management Interface协议）建立服务器的BMC与SSD之间的通信链路。

设置通信频率，以确保服务器的BMC能够按照设定的频率从SSD获取NAND温度值。

步骤二：获取温度值

通过已建立的通信链路，BMC从SSD获取NAND温度值。

计算BMC获取的NAND温度值与BIT测试的需求温度值之间的温度偏差值。

步骤三：设定温度控制器

设定温度偏差阈值，该阈值用于判断NAND温度是否在可接受范围内。

根据计算得到的温度偏差值与设定的阈值大小关系，选择相应的温度控制器。

步骤四：控制风扇转速

选择支持Fuzzy-PID控制方法的温度控制器。

根据选择的控制器，调节BMC对风扇转速进行智能控制，以使SSD的NAND温度值逐渐接近需求温度值。

在测试过程中，SSD老化试验柜可控制整个测试过程的温度，确保温度稳定，一旦温度超出阈值，就会启动温度控制器来调整温度。

从上面的测试可以看出，室温SSD老化试验柜为测试提供了测试环境以及所需测试温度。