可程式高低温 SSD BIT老化试验箱

一、产品简介：

可程式高低温 SSD BIT老化试验箱可用于SSD固态硬盘批量性进行高/低温湿度老化测试，或用于PCB电路板、各类材料、电子产品等进行高低温湿度老化测试。

二、依据标准：

YD/T 3824-2021 面向互联网应用的固态硬盘测试规范

YD/T 3825-2021 面向互联网应用的机械硬盘测试规范

T/CCSA 266-2019 数据中心用固态硬盘测试规范

T/CCSA 266-2019 数据中心用固态硬盘测试规范

三、技术参数：

四、产品特点：

1)支持多种SSD测试：面对不同SSD产品的测试只需更换测试板，当载有SSD产品的测试板插入控制板时，控制板能够智能识别插入的SSD类型并配置成不同PCIe接口，可以重复利用测试，无需重新设计，有效降低测试成本；

2)集成度高：采用模块化的工控机并以载板形式安装在控制板上，大大提高了产品集成度，SSD测试环境和SSD检测同时在一个单元上实现；

3)可远程操作：可以远程对目标测试单元下发各种测试指令，从而方便对工厂测试过程中可能遇到的各问题进行诊断；

4)提高测试一致性：适用于SSD产品的各个测试阶段，包括工程师开发验证阶段，从而使测试的一致性得到保证，避免了因为更换不同测试设备导致的测试不一致。