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可程式高低温 SSD BIT老化试验箱

时间:2023-11-15 14:08:18 作者:环仪小编 点击:

一、产品简介:

可程式高低温 SSD BIT老化试验箱可用于SSD固态硬盘批量性进行高/低温湿度老化测试,或用于PCB电路板、各类材料、电子产品等进行高低温湿度老化测试。

可程式高低温 SSD BIT老化试验箱(图1)


二、依据标准:

YD/T 3824-2021 面向互联网应用的固态硬盘测试规范

YD/T 3825-2021 面向互联网应用的机械硬盘测试规范

T/CCSA 266-2019 数据中心用固态硬盘测试规范

T/CCSA 266-2019 数据中心用固态硬盘测试规范


三、技术参数:

可程式高低温 SSD BIT老化试验箱(图2)


四、产品特点:

1)支持多种SSD测试:面对不同SSD产品的测试只需更换测试板,当载有SSD产品的测试板插入控制板时,控制板能够智能识别插入的SSD类型并配置成不同PCIe接口,可以重复利用测试,无需重新设计,有效降低测试成本;

2)集成度高:采用模块化的工控机并以载板形式安装在控制板上,大大提高了产品集成度,SSD测试环境和SSD检测同时在一个单元上实现;

3)可远程操作:可以远程对目标测试单元下发各种测试指令,从而方便对工厂测试过程中可能遇到的各问题进行诊断;

4)提高测试一致性:适用于SSD产品的各个测试阶段,包括工程师开发验证阶段,从而使测试的一致性得到保证,避免了因为更换不同测试设备导致的测试不一致。


标签: SSD BIT老化柜

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