FAU光纤阵列温度循环试验箱是依照《YD/T 3541-2019 平面光波导器件用光纤阵列》的标准要求设计的，用于检测光纤阵列在-25℃~70℃温度范围内的高低温变化性能，通过高低温循环测试，评估FAU光纤阵列及其耦合结构在热应力作用下的长期可靠性。
试验标准：YD/T 3541-2019 平面光波导器件用光纤阵列
技术参数：
产品特点：
1.采用智能控制器，大屏控制画面，运行状态一目了然。
2.低能耗，极限高温用电量低至0.2KW/H，低温0.7KW/H，运行音量可达65db极致静音标准。
3.试验条件启动速度快，且到达设定点后无温度及湿度过冲抖动现象（到达波动＜0.5℃）。
4.温变能力样件表面温变率15℃/分，可达规定温度变化速率试验的能力。
5.正常试验保证500 小时无霜运转，15 分钟曝露试验可保证1,000 个小时无霜工作。
试验条件：
温度范围：低温-25℃，高温+70℃。
温度变化速率：不超过5min的时间内的平均值不大于1℃。
循环次数：12次。
试验步骤：
1.先将试样在室温下进行预处理，测量其光学性能；
2.然后将其放入精度为±2℃的温度循环试验箱中，
以规定的速率降低温度至-25℃，保持恒温1h；
3.接着再以规定的速率升高温度至+70℃，保持恒温1h；
4.最后以规定的速率恢复到室温，至此构成一个完整的循环。
5.以同样的程序继续进行后面的循环。
结束规定的循环次数后，取出试样，擦净水珠，在室温下恢复2h后外观及光学性能应符合表相关要求。
如有FAU光纤阵列温度循环试验箱的选型疑问，可以咨询环仪仪器相关技术人员。
