无源器件温度循环试验箱是用于光通信无源器件（如透镜、隔离器、耦合器、分光器、波分复用器、光纤连接器等）评估在给定环境中温度变化性能。通过模拟高低温反复交替变化环境，考核产品在温度应力作用下的结构稳定性、密封性能及光学性能变化情况，验证其的适应能力和寿命特性。
满足标准：
IEC IEC 61300-2-22 光纤互连器件温度循环试验
Telcordia GR-1209-CORE
Telcordia GR-1221-CORE
JEDEC JESD22-A104
技术参数：
试验箱要求：
根据GB/T2423.22 试验方法Nb，试验装置包括一个环境试验箱。试验箱的大小应能够容纳试验样品和便于条件调节时的测量，它也能够维持规定的温度和湿度值在规定的容差内，可用空气循环维持试验箱内的均匀条件，同时，试验箱和相关附件的安置方式应避免凝结水滴落到试样上。
试验条件：
例如依据 IEC 61300-2-22 标准：
高温：+85℃
低温：-40℃
高低温保持时间：30min
循环次数：100～500次
温变速率的选择：
温度变化时，样品的温度应控制在周围环境温度上下几度的区间内。在循环的整个过程中典型的温度变化速率不大于15℃/min，首选的温度变化速率为10℃/min~14℃/min。
如有无源器件温度循环试验箱的选型疑问，可以咨询环仪仪器相关技术人员。
