光模块LD芯片测试机

光模块LD芯片测试机用于对LD芯片的电气和光学特性进行检测、判定与分选。该产品具有测试速度快、温控精度高，测试数据的再现性和相关性稳定可靠、数据准确等优点。

发散角测试（选配）:

快轴发散角 测试范围:±60°

慢轴发散角 测试范围:±60°

分辨率：0.072°

电机驱动测试模式：

（1）普通LD（DFB）模式

（2）LD+EA模式

（3）LD+SOA模式

（4）LD+EA

操作软件：

光模块LD芯片测试机的软件为平台化设计，可根据测试要求灵活配置设备、配置测试流程、测试计划、通过/失败判决标准，同时可以方便地从数据库查询测试数据。包括以下功能：

1.可以针对每一款待测件PN进行测试计划新增、编辑和删除，测试计划中包括测试条件，测试序列，测试参数，测试指标pass/fail判断标准，下料分拣标准。

2.支持配置上下料料盒选择。

3.软件界面实时显示每个工位测试温度、 Chip ID、 LIV曲线与光谱曲线以及测试结果。

4各功能模块有独立控制界面，便于工程师对设备进行调试校准，比如温度控制，测试仪表控制，相机调试、光源控制以及上料、下料与高低温平台位置标定。

5.支持工程师，技术员和操作员三个级别的权限管理。

如有光模块LD芯片测试机的选型疑问，可以咨询环仪仪器相关技术人员。