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液槽冷热冲击箱在半导体器件中的试验要求

时间:2026-01-26 11:13:08 作者:环仪小编 点击:

根据GB/T 4937.11标准的要求,半导体液槽温度变化试验采用少量循环(5次~10次)的方式,来模拟清洗器件的加热液体对器件的影响。标准中的液槽温度冲击试验包含4个试验条件,下面为大家做个简单讲解。

半导体液槽温度冲击试验条件:

试验设备:环仪仪器 液槽冷热冲击箱

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试验标准:GB/T 4937.11

试验液体:全氟碳化合物(分a、b、c三类)

a.乙二醇不能用作快速温度变化试验的液体。

b.在该温度范围内,水是可采用的液体。

c.全氟碳化合物不得含有氯和氢。

试验程序和测试条件:

样品应放于液槽中的合适位置,使液体在样品中间及周围的流动不受到阻碍。然后根据以下的规定,使负载按试验条件C或其他规定的试验条件进行15次循环(对于模拟清洗应进行10次循环)。

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1.转换时间:

从热到冷或从冷到热的转移时间不得超过10s。当最坏情况负载温度达到试验要求规定的限值范围内

时,可以转移负载。负载应在5min内达到规定的温度,但保持时间不应少于2min。

2.试验要求:

试验条件A:高温85℃(液体b,c),低温-40℃(液体c);

试验条件B:高温100℃(液体b),低温0℃(液体c);

试验条件C:高温125℃(液体c),低温-55℃(液体c);

试验条件D:高温150℃(液体c),低温-65℃(液体c)。

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试验失效判断:

试验后,按相关文件中规定的正常和最坏情况条件进行检测。如果密封试验(对于密封器件)未通过,或者电参数超差,或者器件功能丧失,则器件应被视为失效。如果出现非安装或人为操作导致的外壳裂纹、剥落、碎裂等机械损伤(见IEC60749-3中定义),也应视为失效。

如有液体冷热冲击(温度变化)试验疑问,可以咨询环仪仪器相关技术人员。



标签: 液槽式冷热冲击试验箱

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