固态PCIE通道BIT老化柜测试步骤

固态硬盘的BIT测试需要用到BIT老化柜，固态硬盘如何在BIT老化柜里面做测试？下面是市面上主流固态硬盘厂商常用的试验方法，下面我们来看看。

固态硬盘BIT测试流程：

试验设备：环仪仪器 固态PCIE通道BIT老化柜

试验产品：固态硬盘

主要流程：

1. BIT测试

首先，在BIT测试中，通过软件设置每次写入磁盘的15%，负荷最大1000，测试时间为72小时。BIT测试结果显示“PASSED”，即通过了测试。这一步骤主要检测固态硬盘在正常工作负荷下是否能够正常运行，并保持性能稳定。

2. 高温老化

接着，将通过BIT测试的固态硬盘样品放入老化柜中，设置温度为100℃，进行高温老化测试，静置3小时。这一步骤旨在模拟硬盘在高温环境下的工作状态，检测其在极端条件下的表现，确保硬盘在高温环境中不会出现性能问题。

3. 坏块检测

完成高温老化后，使用HD Tune Pro进行坏块检测。结果显示全绿，说明在持续写入72小时及3小时高温环境中并没有导致固态硬盘产生坏块。坏块检测是为了确保硬盘在老化测试过程中，存储单元没有受到破坏，仍然能够正常读写数据。

4. 无故障使用时间计算

根据测试数据，可以计算出固态硬盘大概的无故障使用时间。这一步骤是为了预估硬盘在正常使用情况下的寿命，为用户提供更为可靠的使用体验。

例如：在BIT测试中共进行了591次循环，按照其931.5GB的实际可用容量，此次测试共写入82577GB数据，若按一个普通办公用户10GB/天的写入量计算，相当于可以使用22年而不出错。