半导体器件测试用模拟高原低气压试验箱

模拟高原低气压试验箱在半导体元器件的测试应用中，满足《GB/T 4937.2-2006 半导体器件 机械和气候试验方法 第2部分:低气压》标准，为了模拟这种环境，可以使用模拟高原低气压试验箱进行试验。

该试验标准是模拟飞机或其他飞行器在高空飞行中所遇到的低气压条件来进行的。此项模拟高空条件的试验，还可以用来检验低气压下的其他效应对元器件工作特性的影响。

试验程序：

1. 样品应按规定放置在密封室内，并按规定把气压减小到某个试验条件。把样品保持在规定的气压下，对它们进行规定的试验。在试验期间及试验前的20 min 内，试验温度应为25℃±10℃。对器件施加规定的电压，在从常压到规定的最低气压并恢复到常压的整个过程中监测器件是否出现故障。

2. 在试验的最后,将样品从密封室中移出并在标准大气条件下保持2 h~24 h。样品上吸附的冰和水汽应预先除去。

3. 在测试过程中，可以记录半导体器件在不同气压、温度下的性能参数，以评估其抗气压性能、耐气压变化性能和气密性能等指标。

模拟高原低气压试验箱需要符合相应的标准，如GB/T 10590-2006《高低温/低气压试验箱技术条件》等。使用这种试验箱进行半导体器件测试可以更好地模拟实际环境，提高测试数据的准确性和可靠性，对于半导体器件的研发和生产具有重要意义。

如需了解更多关于模拟高原低气压试验箱的信息，可以咨询“环仪仪器”相关技术人员。