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车载终端高低温老化箱对车载终端的试验方法

时间:2026-10-27 10:41:54 作者:环仪小编 点击:次

根据《GB/T 32960.2-2025 电动汽车远程服务与管理系统技术规范 第2部分:车载终端》标准第“5.2.2.4~5.2.2.7”的试验要求,车载终端需要进行高低温的试验。通过高低温试验来评价车载终端的性能要求,下面,我们来了解一下,车载终端的高低温试验方法。

车载终端高低温试验方法:

试验设备:环仪仪器 车载终端高低温老化箱

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试验依据:

GB/T 32960.2-2025 电动汽车远程服务与管理系统技术规范 第2部分:车载终端

GB/T 28046.4-2011 道路车辆 电气及电子设备的环境条件和试验 第4部分:气候负荷

试验要求:

1.低温贮存试验:

目的:模拟DUT暴露在低温不带电工作状态,如系统/组件装运期间。失效模式为不能承受霜冻,例如液晶显示器凝结。

试验:除DUT技术条件另有规定,在低温-40℃条件下,持续24h。DUT工作模式为“DUT未连接到线束”。

试验要求:试验中装置/系统一个或多个功能不满足设计要求,但试验后所有功能能自动恢复到正常运行。

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2.低温运行试验:

目的:模拟DUT暴露在低温带电工作状态,如系统/组件使用于很低的环境温度。失效模式为因低温造成的电气故障(例如带电解液的电容器冻结)。

试验:在低温Tmin进行试验,持续24H。DUT工作模式为“系统/组件带电运行并控制在典型运行模式”。

试验要求:试验中和试验后,装置/系统所有功能满足设计要求。

3.高温贮存试验:

目的:模拟DUT暴露在高温不带电工作状态,如系统/组件装运期间。失效模式为不能承受高温。

试验:除DUT技术条件另有规定,在85C高温干热下进行试验,持续48h。DUT工作模式为“DUT未连接到线束”。

试验要求:试验中装置/系统一个或多个功能不满足设计要求,但试验后所有功能能自动恢复到正常运行。

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4.高温运行试验:

目的:模拟DUT暴露在高温带电工作状态,如系统/组件使用于很高的环境温度。失效模式为因高温造成的电气故障(如组件的热退化)。

试验:在Tmax高温干热下进行试验,持续96H。DUT工作模式为“系统/组件带电运行并控制在典型运行模式”。

试验要求:试验中和试验后,装置/系统所有功能满足设计要求。

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如有车载终端的试验疑问,可以咨询环仪仪器相关技术人员。

标签: 高低温试验箱

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