光模块的加速老化试验一般分为两种，一种是高压加速寿命实验(HAST)，另外一种是无偏压高加速应力测试(u-HAST)，下面，我们来对这两个试验做个简单讲解。
试验设备：环仪仪器 HAST高加速应力试验箱/u-HAST不饱和高加速老化箱
试验标准：JESD22-A110/JESD22-A118
测试方法：
1.高压加速寿命实验(HAST)
130℃/85%RH/2.3atm非饱和湿热环境，施加工作偏压，测试96~168小时，加速评估湿气侵入导致的电化学腐蚀与离子迁移。
HAST可以为光模块提供高温、高湿及更高的大气压环境，实现模拟光模块极端带载工作条件。通过HAST，可对光模块进行加速老化，评估产品耐受温湿度及电应力能力，可以在较短时间内暴露集成电路的封装缺陷，压缩产品可靠性评估周期。
2.无偏压高加速应力测试(u-HAST)
130℃/85%RH/33.3psi高压不饱和湿热，96h；仅环境应力，评估材料本身耐湿、界面附着力、水汽渗透，无电迁移干扰。
uHAST 是在高温高湿条件下进行的一种加速可靠性测试。采用高加速寿命试验箱，在 uHAST测试过程中，水分会渗入外部保护层，或沿保护层与金属导体之间的界面渗透，因此可用于评估器件在潮湿环境中的可靠性。
如有HTGB高温栅偏压测试系统的选型疑问，可以咨询环仪仪器相关技术人员。
