LED组件快速温度循环试验箱是适用于LED模组、模块、灯珠、灯丝、灯带等产品，用于进行温度快速变化或渐变条件下的适应性试验和应力筛选试验。该设备符合MIL-STD、IEC、JIS等国际测试规范，满足led产品温度循环测试及温度冲击的国际标准，如JEDEC、IPC、MIL、ISO、AEC等。
技术参数：
温度循环试验的特点：
1. 可以根据不同的测试规范要求，选择空气温度控制或待测品表面温度控制。
2. 可以选择合适的升降温温变率，如等均温或平均温。
3. 可以分别设定升温和降温的温变率偏差。
4. 可以设定升降温的过温偏差，以符合规范要求。
5. 温度循环和温度冲击测试都可以选择表面温度控制。
试验概述：
多通道LED老化电源与环境试验箱通过专用老化排线连接。老化排线一端采用36P连接器，插入程控电源的输出接口，另一端为金手指结构，经由试验箱进线孔引入箱体内部，并固定安装于高温老化治具上。
在进行老化测试时，仅需将老化板插接至试验箱内的金手指接口，并设置相应的试验参数，即可启动老化试验过程。
所需测试条件均可在电脑上完成，可实时记录存储测试数据，提示有超范围的测试工位。
如有LED组件快速温度循环试验箱的选型疑问，可以咨询环仪仪器相关技术人员。
