周转式高温RDT测试老化柜

一、产品简介：

周转式高温RDT测试老化柜可用于SSD产品进行RDT高温老化测试，老化柜内风道为不锈钢结构，箱内空气封闭自循环。工作室内温度由温控仪自动控制，并有自动恒温及时间控制装置，并附设有超温自动停电及报警电路，控制可靠，使用安全。

二、技术参数：

三、测试指标：

▪支持SATAI/II/III的测试;

▪支持SATA的测试片数定制化例如100片、150片、200片、400片等;

▪支持研发微小型定制化，例如2片、6片等等;

▪支持(室温~+150度)的测试;

▪支持自动化温控测试;

▪支持全部采用软体进行智能化控制测试;

▪支持测试测试软体的定制化;

▪支持箱内风速与温度均衡;

▪支持PCIE/EMMC/UFS/DRAM/Flash老化的定制化研发;

四、产品特点：

可满足原生NVMe协议支持，兼容U.2、M.2、SATA老化的要求。

测试容量大，快拆层板、插拔方便，产品水平插拔可以减少接口因产品重力造成的不良影响，提高板卡使用寿命

配备周转架可一次性拉出/推进测试产品，节约换线时间，极大的提升生产效率和设备稼动率。

采用12V转5V电流供电方式，充分保证每个板卡供电的稳定性，不惧大批量大容量产品测试；

产品区与供电电源隔离；

多个高精度温度采集装置，每层有独立出风口及进风口保证温度更均匀；

产品可根据要求设置上电测试温度；