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电子电器元件模拟高原气候试验室的试验条件

时间:2023-02-25 10:11:45 作者:环仪小编 点击:

模拟高原气候试验室对电子电器元件的低气压试验,用于确定元件和材料在低气压下耐电击穿的能力;确定密封元件耐受气压差不破坏的能力;检验低气压对元件工作特性的影响及低气压下的其他效应;有时候可以用于确定机电元件的耐久性。


一、试验气压

从下边A~E中选取满足自己产的测试条件。

电子电器元件模拟高原气候试验室的试验条件(图1)


二、试验时间

若无其他规定,试验样品在低气压条件下的试验时间,可从下列数值中选取:5min、30min、1h、2h、4h和 16h。


电子电器元件模拟高原气候试验室的试验条件(图2)


三、对模拟高原气候试验室有要求

1.试验箱(室)应有观察窗和接线柱,以便观察和测量电性能。

2.试验箱应有气压指示器,以便测量箱内的气压。

3.应注意避免试验箱的辅助装置,如泵的工作液蒸气及试验箱附件(阀、绝缘物)释放的蒸气产生污染。气压恢复正常时,应注意避免空气带入灰尘或水汽污染试验样品。



四、参数选择

电子电器元件模拟高原气候试验室的试验条件(图3)


如需获取模拟高原气候试验室技术方案,可以官咨询“环仪仪器”相关技术人员。

标签: 模拟高原气候试验室

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