根据《GB/T 8446.2-2022 电力半导体器件用散热器第2部分：热阻和流阻测量方法》标准的要求，半导体散热器需要进行流阻的测量。下面，我们结合标准的测量要求，来看看对半导体散热器流阻的测量方法。
试验设备：环仪仪器 热阻流阻试验平台
测试依据：GB/T 8446.2-2022 电力半导体器件用散热器
第2部分：热阻和流阻测量方法
测量方法：
1.测量原理：
流阻ΔP的计算参考以下公式：
ΔP=Pi-Pout
式中：
Pin—上游侧规定处的冷却媒质压力；
Pout—下游侧规定处的冷却媒质压力。
2.测量步骤：
a.将作为热源的半导体器件/发热元件安装到被测散热体上。
b.将被测散热体安置在热阻流阻试验平台中的规定位置。
c.将压力表或压差计等测量仪表的探头安置在规定位置
d.调整测量仪表的零点。
4.计算：
散热体的流阻ΔP力可直接由压差计读出，或根据被测散热体的上游侧和下游侧压力测量规定点处的压力表上的读改由公式“ΔP=Pi-Pout”计算。
以上就是半导体散热器流阻的测量，如有测试疑问，可以咨询环仪仪器相关技术人员。
