高低温冲击测试系统用于组件的温度测试，例如汽车零件，传感器，光纤收发器，微波设备，MCM，PCB，以及所有类型的电子/非电子零件和其他测试物品。设备可调温度-80℃~+225℃，准确地定位于需要进行热冲击和温度循环测试的冷热区域。
技术参数：
技术优势：
在芯片可靠性测试方面，高低温冲击测试系统有着不同于传统高低温箱的独特优势: 变温速率快，实时监测待测元件真实温度，亦可随时调整冲击气流温度，可针对PCB电路板上众多元器件中的某一单个IC，单独进行测试，而不影响周边其它器件。
功能特点：
1.低能耗设计, 待机时自动节省电力。
2.干燥的空气吹扫功能, 防止水汽在测试表面凝结。
3.通过内部制冷机自动除霜, 快速清除高低温测试机内部积聚的水汽。
4.触摸屏操作界面，显示实时温度变化。
5.通讯接口RS485、USB, 支持测试数据存储和导出，可选配其他数据接口。
使用方法：
1.将被测芯片或模块放置在测试腔中，将热流罩压在测试腔位置。
2.设置需要测试的温度范围。
3.启动设备，利用空压机将干燥洁净的空气通入高低温测试机内部制冷机进行低温处理， 然后空气经由管路到达加热头进行升温，气流通过热流罩进入测试腔。热流罩中的温度传感器可实时监测当前腔体内温度。
4. 在芯片测试平台下，设备快速升降温至要求的设定温度，实时检测芯片在设定温度下的工作状态，对于产品分析，工艺改进以及定向品质追溯提供确实的数据依据。
如有高低温冲击测试系统的选型疑问，可以咨询环仪仪器相关技术人员。
