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《GB/T 4937.12-2018 半导体器件 机械和气候试验方法 第12部分：扫频振动》是中国国家标准化委员会发布的标准，用于评估半导体器件在振动环境下的可靠性和性能稳定性。该标准规定了扫频振动试...
《GB/T 4937.13-2018 半导体器件 机械和气候试验方法 第13部分：盐雾》是中国国家标准化委员会发布的标准，用于评估半导体器件在盐雾环境下的耐蚀性和可靠性。该标准规定了盐雾试验的方法和要...
《GB/T 4937.2-2006 半导体器件 机械和气候试验方法 第2部分:低气压》是中国国家标准化委员会发布的标准，用于评估半导体器件在低气压环境下的可靠性和适应性。该标准规定了低气压试验的方法和...
《GB/T 4937.4-2012 半导体器件 机械和气候试验方法 第4部分：强加速稳态湿热试验（HAST）》是中国国家标准化委员会发布的标准，用于评估半导体器件在高温高湿环境下的可靠性和适应性。该标...
一、产品简介：半导体元件恒温恒湿实验箱是一种用于模拟半导体元件在恒定温度和湿度条件下进行测试和评估的设备。它们提供精确的温度和湿度控制，以满足半导体元件在不同环境条件下的性能和可靠性要求。二、产品用途...
半导体元件恒温恒湿实验箱是一种用于模拟半导体元件在恒定温度和湿度条件下进行测试和评估的设备。其作用主要对半导体元器件进行湿热存储、高温高湿试验，这些试验一般会使用到半导体元件恒温恒湿实验箱。半导体元件...
JEDEC曾经是电子工业联盟，1999年，JEDEC独立成为行业协会，抛弃了原来名称中缩写的含义，目前的名称为JEDEC固态技术协会。固态技术协会发布的相关标准为JESD22测试标准。JESD22标准...
DL/T 859-2015是中国电力公司标准，题为"高压交流系统用复合绝缘子人工污秽试验"（Artificial Polluted Test for Composite Insul...
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