《GB/T 33768-2017 通信用光电子器件可靠性试验方法》标准

GB/T 33768-2017 是中国国家标准，标题为《通信用光电子器件可靠性试验方法》（Reliability Test Methods for Communication Optoelectronic Devices）。

该标准规定了通信用光电子器件（如光通信器件、激光器件、光探测器等）的可靠性试验方法，用于评估这些器件在不同条件下的可靠性和稳定性。这些试验方法旨在确保通信用光电子器件在使用过程中能够具备足够的稳定性和性能，以保障通信系统的正常运行。

一、范围：
本标准规定了通信用光电子器件可靠性试验方法的术语和定义、一般要求、详细要求，包括试验的目的、设备、条件、程序、检验及失效判据。

本标准适用于通信用光电子器件，其他领域的光电子器件也可参照使用。

二、试验项目：
机械冲击试验、振动试验、热冲击试验、高低温试验、温度循环试验、湿热试验、高温寿命试验等。

三、试验设备：
冲击试验台、恒温恒湿试验箱、高温试验箱、液体式冷热冲击试验箱等

四、设备厂商：
环仪仪器

五、试验程序（部分）：

热冲击试验

试验条件如下:

-试验温度:高温: 100℃和低温:O℃ ;

-保持时间:高温和低温各5 min;

-循环次数:从高温到低温再从低温到高温为一次循环，共15次循环﹔
-转换时间:高温到低温时间≤10 s。

在该温度范围内,水(沸水和冰水混合物)是可采用的介质。由于海拔的原因，水作为试验的介质时，若达不到规定的温度容差，可用下面的试验条件代替:

-试验温度:高温: 100℃，低温:0℃;

-循环次数:20 次。

程序
按以下程序进行试验:

a)试验前对试样的主要光电特性进行测试。

b)将试样放于试验槽中，液体在试样周围的流动不应受到阻碍。
c)试样放在高温中保持5 min后，再将试样放入低温中保持5 min ;
试样应在2 min内达到规定的温度;从高温到低温，或从低温到高温的转换时间不得超过l0 s。

d)按照c)步骤进行15次循环。

通过遵循 GB/T 33768-2017 标准中规定的可靠性试验方法，制造商和用户可以评估通信用光电子器件在不同环境条件下的性能和可靠性，从而选择和使用更加稳定可靠的器件，提高通信系统的可靠性和性能。同时，该标准也为光电子器件的设计、制造和使用提供了技术指导。