存储产品的高温老化就是通过让存储产品进行高温的工作，测试其读写是否正常，来评价存储产品的老化性能以及使用寿命。试验过程可以使用高温存储老化测试箱，下面我来看看是如何测试的。
半导体存储产品老化测试：
试验设备：环仪仪器 高温存储老化测试箱
测试原理：模拟在高温或低温的环境下，通过辅助控制软件发指令，向存储类产品做读写和比对测试，确认存储产品在严苛的外部环境是否可以正常运作。
测试步骤：
步骤一：将样品组装在高温存储老化测试箱内。
步骤二：通过控制器，对高温存储老化测试箱进行定时的升温、降温、恒温控制；
步骤三：对高温存储老化测试箱在不同的环境温度下发出指令，使存储产品做读或写的指令，直至此测试项目完成，并回报后，服务器再发出下一个指令，并进行下一个项目的测试；
步骤四：通过编辑产出报告格式，自动回填各测试项目数据，通过对测试数据做逻辑判断，自动判断结果是PASS或是NG。
以上老化试验需要多台高温存储老化测试箱并搭配多台测试机，才能完成存储类产品在不同的高温环境下做读写测试（高温的温度范围是35℃~85℃，恒温的温度是10~20℃。）
如有高温存储老化测试箱的使用疑问，可以咨询环仪仪器相关技术人员。
