MIL-STD-2164标准快速温度变化试验箱

美军标MIL-STD-2164 电子设备环境应力筛选方法，是提高电子产品可靠性的必要手段，在该试验方法中，主要用到的试验设备为“快速温度变化试验箱”，下面，我们来了解一下该试验方法。

MIL-STD-2164中的电子产品环境应力筛选方法：

1.适用样品：

研制阶段和批生产初期的电子产品(可以是印制板组件、单元或整机，但不适于元器件);在批量生产中、后期可据产品批量大小及质量稳定情况采用抽样或简化筛选方案。

2.试验设备：快速温度变化试验箱

3.设备型号：HYQT系列

4.设备商：环仪仪器

5.试验要求：

a.高低温度限取产品的工作极限温度，对不 通 电状态筛选，则可取产品的非工作极限温度(贮存温度)。

b.高低温保持时间由产品典型试验确定，为产品典型测量点均值达到高(或低)温极限的时间与箱内空气测量点均值达到高(或低)温极限值的时间之差。

c.变温率应大于5℃/min

d.循环次数为12个循环(相应于循环周期3小时20分)，或10个循环(相当于循环周期4小时)，使两种情况下的温循筛选总时间均为40小时。

e.对无故障检验，则为40~ 80小时，相应于循环次数10~ 20或12~ 24。