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SJ 20875-2003是中国电子行业军用标准，它规定了扁平封装集成电路插座在应力试验中的测试程序和要求。该标准的目的是评估扁平封装集成电路插座工作环境下的可靠性和耐久性。一、范围：本规范规定了底板...
GB/T 36357-2018是中国国家标准中功率半导体发光二极管（LED）芯片技术规范的代号。该标准是由中国国家标准化管理委员会（SAC）发布的，它规定了中功率半导体发光二极管芯片的设计、制造和测试...
《GB/T 4937.42-2023 半导体器件 机械和气候试验方法 第42部分：温湿度贮存》是中国国家标准化委员会发布的标准，用于评估半导体器件在温湿度贮存条件下的性能和可靠性。该标准规定了温湿度贮...
《GB/T 4937.12-2018 半导体器件 机械和气候试验方法 第12部分：扫频振动》是中国国家标准化委员会发布的标准，用于评估半导体器件在振动环境下的可靠性和性能稳定性。该标准规定了扫频振动试...
《GB/T 4937.13-2018 半导体器件 机械和气候试验方法 第13部分：盐雾》是中国国家标准化委员会发布的标准，用于评估半导体器件在盐雾环境下的耐蚀性和可靠性。该标准规定了盐雾试验的方法和要...
《GB/T 4937.2-2006 半导体器件 机械和气候试验方法 第2部分:低气压》是中国国家标准化委员会发布的标准，用于评估半导体器件在低气压环境下的可靠性和适应性。该标准规定了低气压试验的方法和...
《GB/T 4937.4-2012 半导体器件 机械和气候试验方法 第4部分：强加速稳态湿热试验（HAST）》是中国国家标准化委员会发布的标准，用于评估半导体器件在高温高湿环境下的可靠性和适应性。该标...
DL/T 859-2015是中国电力公司标准，题为"高压交流系统用复合绝缘子人工污秽试验"（Artificial Polluted Test for Composite Insul...
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