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交换机端口盐雾试验箱可以模拟含盐大气对光电子器件暴露表面影响的加速试验,因为盐能降低金属材料和(或)非金属材料的性能。试验箱带有耐腐蚀的支撑器件夹具、盐溶液槽、
连接器盐雾试验箱满足《GB/T 12507.1 光纤光缆连接器第1部分:总规范》标准中“4.5.26腐蚀性大气(盐雾)”的要求,通过盐雾试验比较类似结构的样品抗
FAU光纤阵列盐雾试验箱用于考核纤维光学器件处于可控盐雾大气环境中抗腐蚀的能力。试验按GB/T 2423.17 的试验Ka进行,样品暴露在35℃的盐雾试验箱中,
透镜光学器件盐雾试验箱用于评估光学及其他功能性涂(镀)层的抗盐雾腐蚀的能力,通过盐雾试验,提早发现材料组合的不合理性。试验箱可以维持352℃,顶部与水平方向倾斜
高速电芯片盐雾试验箱的试验依据《GB/T 4937.13 半导体器件 机械和气候试验方法 第13部分:盐雾》的要求进行,通过盐雾试验确定半导体的耐腐蚀能力。满足
高速PCB盐雾试验箱用于测试高速PCB耐腐蚀性能,高速PCB板进行盐雾试验的时候,需要控制其摆放角度,并且其表面不能积聚过多盐水,否则会影响腐蚀速率,导致测试结
无源器件盐雾试验箱依据《GB/T 18310.26 纤维光学互连器件和无源器件基本试验和测量程序 第2-26部分:试验 盐雾》标准的要求设计,用于评估光纤连接器
光芯片盐雾试验箱用于确定半导体器件耐腐蚀的能力。其试验原理是模拟严酷的海边大气对器件暴露表面影响的加速试验,适用于工作在海上和沿海地区的器件。试验标准:GB/T